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浅析三坐标测量仪测针的分类

   我想，大家都知道三坐标测量仪的测量系统由标尺系统和测头系统构成，它们是三坐标测量仪的关键组成部分，决定着决定着CMM测量精度的高低。而三坐标测针是三坐标测量仪的测头系统的组成部分，主要用来触测工件表面，通过测头的机械装置移位，产生信号触发并采集一个测量数据。现在市场上应用广泛的是红宝石材质的测针。

   三坐标测针可以分为以下几类：

1、陶瓷空心球形测针：是检测X、Y和Z向深位特性和孔的理想选择，只需要标定一个球。

2、球形测针：是的一种测针，适用于大多数检测应用场合，材料主要使用硬度高，耐磨性强的工业用红宝石；是应用广泛的测针类型；

3、柱形测针：用于检测薄板材料的孔，还可检测多种螺纹部件。

4、星形测针：是由四个或五个红宝石测球系统牢固的安装在一个不锈钢星星测针座上，这类测针可用于测量各种不同的形体结构，是针对复杂形体和孔的多测尖检测；

5、盘形测针：在球的中心附近截断做成的盘模样的测头；应用于检测星型测针无法触及的孔内退刀槽和凹槽；

6、测针：用于螺纹牙型、薄截面材料、对刀和其他的测量场合。

7、尖测针：于螺纹牙型、特及刻划线的检测；

  如何选用合适的探针进行有效探测的关键因素之一是进行测头探针的选择，是否能够触测到特征并在接触时保证一定的精度是使用者应当重点考虑的事情。所说，关于三坐标测量仪测针的知识，我们是很有必要去了解的。

在工业制造业中，三坐标测量仪被作为质检仪器使用，是一种的测量仪器。那么在三坐标测量仪的使用中，会有许多操作要求与环境限制，这些因素会直接导致测量精度，便携式三坐标检测供应，影响测量结果。特别在制造业中，航空航天、汽车制造等行业。其中蔡司三坐标测量仪的应用超为广泛，其测量仪的稳定性与精度受到业内的认可与赞誉。

那么下面我们来介绍一下对三坐标测量仪测量结果偏差较大的原因有哪些

、如果装夹的工件质量不过关，可以造成三坐标测量仪测量的结果偏差太大。

第二、如果被测量的工件的表面太粗糙，还有就是被测量的工件的表面上存在者较多的脏物，也会使三坐标测量仪的测量的结果偏差太大。

第三、如果是三坐标测量仪的相关的附件，连接的不正确，也是造成三坐标测量仪测量的结果偏差过大的主要原因。

第四、三坐标测量仪在使用的过程中，便携式三坐标检测多少钱，要经常性的进行测针校正这样的操作，如果测针校正的方法不对，或者是校正的结果不正确，也可以造成三坐标测量仪的测量的结果偏差过大。

第五、如果使用的测量的方法出现错误，也会造成三坐标测量仪的测量结果偏大。

第六、必须保持测量室内的温度、湿度达到测量要求的平和度。如果温差较大或不在要求的湿度内，会直接影响测量结果，并且对机器也会有损伤。

对于测量工程师而言，1正确的操作测量仪器是至关重要的环节，所以每一步的正确操作都非常重要。

三坐标测量机从接触式到非接触式的发展历程

   三坐标测量仪有接触式和非接触式两种类型，非接触式三坐标测量机是在接触式三坐标测量机基础上发展起来，现在我们来了解下他们的发展历程。

   接触式三坐标测量机，它是通过探针碰触产品实现自动测量，它的优势是可以自动测量，便携式三坐标检测直销，减少人为误差，对于大尺寸的产品编程序并实现批量测量。但是问题是接触式测量只能对面及柱、锥、球等几何实体进行测量，而且探针在使用之前必须根据零件被测的特征大小进行选择，句容便携式三坐标检测，校准后才能使用。

   在接触式三坐标的测量程序自动运行中，必须一点一点地碰触，经历趋近，碰点，回弹的过程，不仅耗时，而且必须具备安全空间才可以使用。探针的针径1小直径在0.3mm以内，在编程时就已经很困难了，而且探针容易发生碰撞的事故。那么薄壁、易变形的产品就更加不能碰触了。

   随着精密和维细制造的数字化水平的发展，产品集成化大势所趋，微小产品的快速测量成为业界日益紧迫的任务。接触式三坐标测量仪能够实现自动测量已经无法完全满足要求。

   随着光学、机械、电子等技术的发展和高度融合，三维光学测量仪器和多元传感的三维光学测量仪器应运而生了。

   三维光学测量仪器优异的影像识别能力使得全自动测量成为可能。批量的产品数百数据可以通过按一个按钮实现自动测量和自动输出结果，改变传统的依靠经验的手动测量方式，使自动测量的重复性控制在微米级，极大程度地提高检测水平，促进制造品质的提高。

   从三坐标测量机的发展历程得出这样的结论，随着现代工业的发展，在不久的将来，必然会出现比非接触式三坐标测量机机更加的仪器。但丝毫不影响，非接触式三坐标测量机在目前阶段精密测量仪器行业中的地位。